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ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評(píng)估,可以自動(dòng)獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息,具體包括:
• 顆粒粒度分布
• 顆粒形貌分析
• 雜質(zhì)成分檢測(cè)
• 高分辨率成像(8 nm 分辨率)
ParticleX 以?huà)呙桦婄R和能譜儀為基礎(chǔ),結(jié)合自動(dòng)控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)系 統(tǒng),可以全自動(dòng)對(duì)雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì),為客戶(hù)的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)
產(chǎn)品參數(shù)
電子顯微鏡:200,000 倍
探測(cè)器:高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器
燈絲材料:1,500 小時(shí) CeB6 燈絲
分辨率:優(yōu)于 10 nm
放置環(huán)境:采用專(zhuān)業(yè)防震設(shè)計(jì),可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠(chǎng)房
加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)
抽真空時(shí)間:小于 30 秒
能譜儀:可選配能譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域
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